材料分析原理与技术重点(25)

(3)面分析： 电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪固定在所要测量的某一元素特征X射线信号的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。

35.特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？

答：（1）特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是，以高能电子轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。

（2）某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。

36.阐述原子散射因子随衍射角的变化规律

答：原子散射因子取决于原子中电子分布密度以及散射波的波长和方向。随sinθ/λ 值减小，f增大；sinθ＝0时，f=Z，当θ不等于0时，f<Z

37.成像系统的主要构成及其特点是什么？

答：成像系统组要是由物镜、中间镜和投影镜组成。

（1）物镜