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材料分析原理与技术
一．单选
1.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（ ）
Cu Fe Ni Mo
2.XRD属于（ ）
光谱 能谱 衍射花样
3.一般来说什么样的样品适合于粉末衍射（ ）
具有高度织构的样品 无规则排列的多晶粉末 单晶块材
4.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ ）
背散射电子 俄歇电子 特征X射线
5.中心暗场像的成像操作方法是（ ）
以物镜光栏套住透射斑 以物镜光栏套住衍射斑 将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑
6.衍射仪法中的试样形状是（ ）
丝状粉末多晶 块状粉末多晶 块状单晶 任意形状
7.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（ ）
4 8 6 12
8.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ）
是否满足布拉格条件 是否衍射强度I≠0 A+B 晶体形状
9.衍射现象的产生是因为样品中有什么（ ）
周期性排列的原子结构 吸收限近似于入射光子能量的元素 短程有序的无定形相
10.X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ ）
哈氏无机数值索引 芬克无机数值索引 戴维无机字母索引
11.XRD检测样品的什么信息（ ）
