各种材料学分析测试技术总结

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时输入电功率而得到补偿,所以实际记录程中的试样温度和反应的是试样和参比物下面两只电热补偿加动力学的数据。 热丝的热功率之差随时间t的变化关系。DSC分析与差热分析相如果升温速率恒定,记录的也就是热功率比,可以对热量作出更之差随温度T的变化关系。 为准确的定量测量测试,具有比较敏感和需要样品量少等特点。 xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的 扫描SEM

EDS(能谱)(分为点、线、面扫map)

TEM透射电镜 HRTM高分辨电镜 明场像 暗场像

选区电子衍射SAED

EBSD被散射模式(测晶粒角度) 光学显微镜OM

体势显微镜(涉及金属材料)


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