loading实验二 组合逻辑电路分析与测试
一、实验目的
1．掌握组合逻辑电路的分析方法。
2．验证半加器和全加器电路的逻辑功能。
3．了解两个二进制数求和运算的规律。
4．学会数字电子线路故障检测的一般方法。
二、实验原理
1．分析逻辑电路的方法：根据逻辑电路图---写出逻辑表达式---化简逻辑表达式（公式法、卡诺图法）---画出逻辑真值表---分析得出逻辑电路解决的实际问题（逻辑功能）。
2．实验线路
（1）用与非门组成的半加器，如图4-4-1所示。
图4-4-1 与非门组成的半加器
（2）用异或门组成的半加器，如图4-4-2所示。。
图4-4-2 异或门组成的半加
器
（3）用与非门、与或非门和异或门组成的全加器，如图4-4-３所示：
3．集成块管脚排列图见附录
三、实验仪器及器材
１．数字实验箱 ２．集成块74LS00
３．集成块74LS54 ４．集成块74LS86
５．万用表 6．＋5V直流电源
图4-4-3 与非门、与或非门和异或门组成的全加器
四、实验内容及步骤
１．检查所用集成块的好坏。
２．测试用与非门组成的半加器的逻辑功能。
（1）按图4-4-1接线，先写出其逻辑表达式，然后将输入端A、B接在实验箱逻辑控制开关插孔，X1、X2、X3、Sn、Cn分别接在电平显示插孔接好线后，进行测试。
（2）改变输入端A、B的逻辑状态，观察各点相应的逻辑状态，将结果填入表4-4-1中，测试完毕，切断电源，分析输出端逻辑状态是否正确。
表4-4-1 输入端 A 0 0 1 1
（1）按图4-4-2接线，将输入端A、B分别接在逻辑控制开关插孔，Cn、Sn分别接在电平显示插孔，接好线后进行测试。
（2）改变输入端An、Bn的逻辑状态，观察Sn和Cn的显示状态，并将测试结果填入表4-4-2中，并分析结果正确与否。若输出有误，分析其原因并查找故障点。
４．测试用与非门、与或非门组成的全加器的逻辑功能。
B 0 1 0 1 输 出 端 X1 X2 X3 Sn Cn ３．测试用异或门和与非门组成的半加器的逻辑功能