第四轮灯具测试报告分析

（4）Bulb

第四轮器件测试报告分析

一．测试说明

第四轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心（中电科第十三所）测试提供，芯片测试在350mA下进行，测试方法标准为SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法。

二. 数据分析

图1. 光效随显色指数（CRI）变化情况

图2. 光效随色温（CCT）变化情况